為進(jìn)一步提升可靠的手法-----環(huán)境試驗(yàn),占了非常重要的位置。說(shuō)沒(méi)有環(huán)境試驗(yàn)就不可能確保質(zhì)量,一點(diǎn)不為過(guò)。環(huán)境試驗(yàn)提供了一種確定的、驗(yàn)證環(huán)境影響的手腕,目的在于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在構(gòu)造設(shè)計(jì)、元器件、資料選擇以及工藝方面的缺陷,以便采取恰當(dāng)?shù)拇胧?,改良產(chǎn)品預(yù)期運(yùn)用環(huán)境的順應(yīng)性;其次是審定、考核產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性,考驗(yàn)?zāi)芊駶M(mǎn)足規(guī)范、技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或用戶(hù)的需求,并作為投產(chǎn)或批量消費(fèi)接納或拒收決策的根據(jù);再者就是為運(yùn)用、維修和后勤需要提供有用的數(shù)據(jù)信息。
歸結(jié)為電工電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的目的通常有如下幾方面:
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性到達(dá)預(yù)定指標(biāo)的狀況;
2.消費(fèi)階段為監(jiān)控消費(fèi)過(guò)程提供信息;
3.對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性審定或驗(yàn)收;
4.暴露和分析產(chǎn)品在各種環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;
5.為改良產(chǎn)品可靠性,制訂和改善可靠性試驗(yàn)方案,為用戶(hù)選用產(chǎn)品提供依據(jù)。